透過型電子顕微鏡分析（TEM）は、自然物や人工物の細部をマイクロメートル、ナノメートル、およびサブナノメートルの分解能で観察できます。分析 TEM は、この高空間分解能プローブと電子分光計、エネルギーフィルターおよび X 線蛍光システムの分析機能を組み合わせ、試料に関する貴重な組成および構造情報を提供します。

Gatan は、約四半世紀に渡り、電子エネルギー損失分光法（EELS）およびエネルギーフィルター型 TEM（EFTEM）システムを開発および改良しています。Gatan EELS および EFTEM ハードウェア/ソフトウェア製品は、この分野における商用的な最新技術を常に定義しています。分析l TEM 用 Gatan システムで収集および分析される信号は、送信される電子ビームによりプローブされる材質試料に関する豊富な情報を提供します。この情報には、試料の厚み、元素および化学組成、電子構造およびエネルギーレベル、周波数に依存した誘電応答、要素独自の原子動径分布があります。

Gatan は、その EELS および EFTEM 製品ラインに加え、スキャニングモード TEM（STEM）分析を拡張およびサポートするさまざまな製品を提供します。これらの製品には、デジタルビームスキャンおよびイメージングシステム、STEM EELS 技術向けに最適化された STEM 検出器、EDS データ収集および分析ソフトウェア、スペクトルイメージングおよび分析ソフトウェアがあります。